CIFRE- comprehension de la cristallisation et du comportement électrique de nouveaux alliages à changement de phase à base de GGST H/F

Chez STMicroelectronics, nous sommes convaincus que la technologie est un moteur d’innovation et a un impact positif pour les entreprises, les personnes et la société. En tant qu’acteur mondial des semiconducteurs, nos technologies de pointe et nos composants électroniques sont invisibles mais au cœur du monde d’aujourd’hui. Rejoindre ST, c’est intégrer une entreprise internationale riche de plus de 115 nationalités, présente dans 40 pays, et rassemblant plus de 50 000 talents passionnés et engagés, tous unis par la volonté de créer et d’inventer la technologie de demain. Innover demande bien plus que des compétences techniques : cela nécessite des personnes inspirantes, qui savent collaborer avec respect et enthousiasme. Des collaborateurs animés par la passion, prêts à remettre en question le statu quo, à faire avancer l’innovation et à révéler leur plein potentiel. Venez vivre cette aventure avec nous et contribuez à construire un futur plus intelligent et plus durable, en alliant responsabilité et innovation. Notre technologie commence avec vous. A propos de vos missions

• Définition, préparation des échantillons
• Analyses in situ au labo ou au synchrotron sur des matériaux en films minces (XRD, mesure de résistivité électrique (Rs), réflectivité RX)
• Analyses ex situ après recuits thermiques (XRD, XRR, Rs, TEM, FTIR and spectroscopie Raman)
• Proposition de mécanismes de cristallisation, nucléation, phénomènes de ségrégation.
• Etablir une corrélation entre comportement électrique et le comportement matériau A propos de vous
• Master ou école d’ingénieur en physique des matériaux ou microélectronique / nanotechnologies
• Connaissances en cristallographie, sciences des matériaux et techniques de caractérisation
• Autonomie, rigueur et compétences en communication ENGLISH Version : About your tasks

• Samples Definition and preparation In situ analysis in the laboratory or synchrotron on thin film materials (XRD, electrical resistivity measurement (Rs), X-r...