Expert en XPS pour quantifier dopants actifs en épitaxie

CEA-Leti recherche un doctorant pour une thèse sur l'analyse et la quantification des dopants actifs dans des couches fortement dopées par XPS. Le poste vise à mesurer les dopants As, P et B et à identifier leur état chimique, avec évaluation des conditions de croissance et des précurseurs utilisés.

Le candidat développera des méthodes XPS, optimisera le traitement des spectres et réalisera des mesures exploratoires en XPS à haute énergie (HAXPES).